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文天精策儀器科技（蘇州）有限公司是專業(yè)的冷熱臺(tái)生產(chǎn)廠家， -190~600℃，高溫1200℃，溫控精度±0.1℃。光學(xué)冷熱臺(tái)是能夠與光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、環(huán)境掃描電子顯微鏡、低溫凍干顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡、熒光顯微鏡等多種顯微鏡設(shè)備結(jié)合，通過(guò)編程精密控制樣品臺(tái)溫度，快速加熱或冷卻樣品，可以觀察、記錄該過(guò)程中樣品發(fā)生的結(jié)構(gòu)和形貌變化，探究和認(rèn)識(shí)樣品的理化性質(zhì)。

半導(dǎo)體冷熱臺(tái)又稱帕爾貼冷熱臺(tái)，半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)，配合低溫循環(huán)液使用。 與各類顯微鏡、光譜儀、掃描電鏡等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用，進(jìn)行變溫下的光學(xué)觀察及測(cè)試。 實(shí)現(xiàn)樣品開(kāi)放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。

光學(xué)冷熱臺(tái)支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用，進(jìn)行變溫下的光學(xué)觀察及測(cè)試。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行溫控，實(shí)現(xiàn)樣品在氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。

XRD原位冷熱臺(tái)是一款X-射線衍射儀的變溫測(cè)試附件，可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試的溫度范圍：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體 / 真空的環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)試。 適合于粉末、片材樣品在變溫下進(jìn)行X-射線結(jié)構(gòu)研究，支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學(xué)等）上定制樣品架進(jìn)行適配。

變溫光譜儀冷熱臺(tái)可實(shí)現(xiàn)多種環(huán)境(氣氛、真空、濕度等)，與顯微鏡、拉曼、光譜儀、DIC等聯(lián)用，進(jìn)行材料、器件等的成分、相變、形變、電學(xué)、光學(xué)性能等測(cè)試。

變溫X衍射結(jié)構(gòu)緊湊，適用于多種材料的變溫XRD測(cè)試，最大溫度范圍 -190 ℃ 到 600 ℃ （可選性）。